檢測價(jià)格
面議
檢測資質(zhì)
CMA/CNAS
晶粒度表示晶粒尺寸大小的尺度。金屬的晶粒大小對金屬的許多性能有很大的影響。晶粒度的影響,實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細小則晶界面積越大,對性能的影響也越大。對金屬的常溫力學(xué)性能來(lái)說(shuō),一般是晶粒越細小,則強度和硬度越高,同時(shí)塑性和韌性也越好。
測定平均晶粒度的基本方法
一般情況下測定平均晶粒度有三種基本方法:比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下:
1、比較法:比較法不需要計算晶粒、截距。與標準系列評級圖進(jìn)行比較,用比較法評估晶粒度一般存在一定的偏差(±0.5級)。評估值的重現性與再現性通常為±1級。
2、面積法:面積法是計算已知面積內的晶粒個(gè)數,利用單位面積晶粒數來(lái)確定晶粒度級別數。該方法的精確度在于計算晶粒度的函數,通過(guò)合理計數可實(shí)現±0.25級的精確度。面積法的測定結果是無(wú)偏差的,重現性小于±0.5級。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計數。
3、截點(diǎn)法:截點(diǎn)數是計算已知長(cháng)度的試驗線(xiàn)段(或網(wǎng)格)與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數,利用單位長(cháng)度截點(diǎn)數來(lái)確定晶粒度級別數。截點(diǎn)法的精確度在于計算截點(diǎn)數和截距的函數,通過(guò)有效的統計結果可達到±0.25級的精確度。截點(diǎn)法的測量結果是無(wú)偏差的,重現性和再現性小于±0.5級。對于同一精度水平,截點(diǎn)法由于不需要精確標記截點(diǎn)和截距數,因而較面積法測量快。
材料組織結構分析是揭示材料性能與材料成分、工藝措施間內在規律的重要手段和橋梁。
化學(xué)成分、原子集合體的結構以及內部組織是決定金屬材料性能的內在基本因素。當化學(xué)成分給定時(shí),金屬材料的一類(lèi)性能,對結構組織的變化反映很敏感。而這類(lèi)性能有屈服強度、抗拉強度、斷裂強度、硬度、韌性、伸長(cháng)率、面縮率、滯彈性、蠕變、鐵磁性等。
通過(guò)對組織結構分析,來(lái)指導生產(chǎn)實(shí)踐和科學(xué)研究,以便于更充分有效的發(fā)揮現有金屬材料的潛力,并進(jìn)而研發(fā)新的金屬材料。